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日本日置 IM3570阻抗分析仪

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

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FC03-000107

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  • 存货编码: FC03-000107
  • 品牌: 日本日置(日本)


IM3570阻抗分析仪 商品介绍


  • 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
  • LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
  • 基本精度±0.08%的高精度测量
  • 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
  • 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量


IM3570阻抗分析仪 商品性能



  • 测量Z、L、C、R
  • 测量频率4Hz~5MHz
  • 测量时间:0.5ms
  • 同时进行扫频测量和LCR测量

测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源 AC90~264V,50/60Hz,大150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源 AC90~264V,50/60Hz,大150VA
体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1
4端子探头L2000
DC~5MHz,1m长
4端子探头 9140-10
线长1m,DC~200kHz,50Ω, 可测导体直径φ0.3mm~5mm
镊形探头L2001
线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间间隔:0.3~6mm
测试治具 9261-10
线长1m,DC~5MHz,50Ω, 可测导体直径φ0.3mm~1.5mm
测试冶具 9262
直接连接型, DC~5 MHz
测试冶具 9263
DC~5MHz,直接连接型,测试样品尺寸:1mm~10mm
当使用9268-10或9269-10时,需要外接恒压和恒流源。    
DC偏置电压单元 9268-10
直接连接型,40Hz~5MHz,大外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10
直接连接型,40Hz~2MHz,大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10
线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD
DC~120MHz,测试样品
尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD
DC~120MHz,测试样品
尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
点击下载IM3570阻抗分析仪产品彩页

累计评价

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5.0

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